型號：儀電物光WKL-702

品名：顆粒圖像分析儀

產品特點：

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

1.圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能

2.具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量

3.可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖

上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析儀技術參數(shù)：

測量范圍：0.1～3000（微米）

總放大倍數(shù)：8000倍

最大分辨率：0.1微米/像素

重復性誤差：≤±1％

自動分割速度：≤1秒

數(shù)字攝像機(CCD)：500萬像素

數(shù)據(jù)儲存：電腦另配

通信接口：USB

操作系統(tǒng)：Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可

電源：AC220V ±10％ 200W

儀器尺寸：270mmX410mmX440mm

儀器凈重：15kg

上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析儀技術參數(shù)：